分析機器
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万能試験機 インストロン 5567型 |
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マイクロビッカース 硬度計 アカシ MVKーH１ |
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熱分析装置 セイコーインスツル DSC6200/DSC6300S |
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FT-IR 島津製作所 IRAffinity-1/AIM-8800 |
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マイクロ接合強度 評価装置 レスカ STR-1000 |
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耐衝撃性試験機 デイジ社 4000HS |
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微小荷重試験機 鷺宮製作所 |
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CCDマイクロスコープ キーエンス VH-5000 |
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光学顕微鏡(x50～x1000) オリンパス PME3-513U |
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偏光顕微鏡 オリンパス BX51M |
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EBSD付き電界放出形 走査電子顕微鏡 (FE-SEM, ～x500000) 日立ハイテクノロジーズ Ｓ-4300SE/N |
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レーザ顕微鏡 キーエンス VK-X150/X160SP1726 |
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分極測定装置 |
主要実験装置
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簡易めっき装置 |  |
赤外線イメージ炉 アルバック理工 石英管100mm径対応 |
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クロスセクション ポリッシャ 日本電子製 IB-19530CP |
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磨耗試験機 レスカ FPR－2100型 |
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超音波接合装置 |
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有限要素解析装置 |
群大共通機器（ナノテクノロジー対応）
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TEM: 透過型電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope) JEM-200CX |
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SEM: 走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope) OIM/EDS機能付き |
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EPMA: 電子線マイクロアナライザ(Electron Probe X-ray Micro Analyzer) 島津製作所製 |
